Система рентгеновского контроля Seamark X7800. Применяется для обнаружения дефектов корпусов микросхем, измерения размеров компонентов, обнаружение возможных дефектов при поверхностном монтаже, проверка батарей и электродов, инспекция биологических материалов и другое.

Система рентгеновского контроля Seamark X7600. Применяется для обнаружения дефектов корпусов микросхем, измерения размеров компонентов, обнаружение возможных дефектов при поверхностном монтаже, проверка батарей и электродов, инспекция биологических материалов и другое.

Система рентгеновского контроля Seamark X6600A. Применяется для обнаружения дефектов корпусов микросхем, измерения размеров компонентов, обнаружение возможных дефектов при поверхностном монтаже, проверка батарей и электродов, инспекция биологических материалов и другое.

Система рентгеновского контроля Seamark X6600. Применяется для обнаружения дефектов корпусов микросхем, измерения размеров компонентов, обнаружение возможных дефектов при поверхностном монтаже, проверка батарей и электродов, инспекция биологических материалов и другое.

Система рентгеновского контроля Seamark X5600. Применяется для обнаружения дефектов корпусов микросхем, измерения размеров компонентов, обнаружение возможных дефектов при поверхностном монтаже, проверка батарей и электродов, инспекция биологических материалов и другое.

Система рентгеновского контроля. Применяется для обнаружения дефектов корпусов микросхем, измерения размеров компонентов, обнаружение возможных дефектов при поверхностном монтаже, проверка батарей и электродов, инспекция биологических материалов и другое.